您的紫外分光光度计进行样品分析时是否限制您选择理想的检测器和波长？您花费在仪器设置上的时间是否比分析样品还要多？从光学器件、薄膜到太阳能面板和建筑玻璃都需要一种能够灵活、准确地为您解决问题的紫外分光光度计。珀金埃尔默日前宣布推出全新的lambda™1050+紫外/可见/近红外和850+紫外/可见分光光度计，配备双样品仓和各种可选的通用和专用附件。不管样品如何复杂，该仪器均能凭借其突出的灵敏度、分辨率和扫描速度助您从容应对。
新型的高性能lambda™1050+ uv/vis/nir和850+ uv/vis系统能大程度地提高生产率，灵活性和便利性，广泛应用于玻璃制造，涂层，光电，半导体，显示屏，太阳能，军事，先进材料，研究和学术等领域。
lambda™1050+ uv/vis/nir是我们性能高的uv/vis/nir系统，波长范围在175 nm至3300 nm之间，用于分析研究和制造中的涂层，高性能玻璃，太阳能以及先进材料和组件。
更好的样品控制
无与伦比的灵活性
更高的生产率
符合21 cfr part 11软件
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《lambda™1050+ 紫外/可见/近红外分光光度计样本》
lambda 850+ uv/vis是我们性能高的uv/vis系统，波长范围在175 nm至900 nm之间，用于分析研究和制造中的涂层，高性能玻璃和组件。
无与伦比的灵活性
最多元化和有价值
符合21 cfr part 11软件
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《lambda 850+ 紫外/可见分光光度计样本》

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